Hem kriyojenik hem de ısıtmalı ölçümler için termal kontrol düzeneğine sahip (-180 °C ile +1600 °C arasında) X-ışını kırınımı (XRD) cihazı, araştırmacılara kristal malzemeleri karakterize etmek için güçlü, tahribatsız ve hızlı bir yöntem sunmaktadır.
XRD cihazı malzemelerin kristal yapısı, faz bileşimi, kalıntı gerilmeler ve kristal kusurları gibi yapısal parametreler hakkında kalitatif ve kantitatif bilgi sağlaması nedeniyle jeoloji, malzeme, çevre, kimya, adli tıp ve ilaç sektörü başta olmak üzere farklı sektörlerde yaygın olarak tercih edilen bir karakterizasyon yöntemidir.
Ayrıntılı bilgi ve rezervasyon için iletişime geçebilirsiniz.
