Elektron Mikroskopisi ve Spektroskopisi Laboratuvarı

Alt-Yapı

AMAÇ VE YETENEKLER

  • En ileri teknolojiyi kullanarak atom ve moleküler seviyede görüntüleme ve inceleme.
  • Türkiye’deki ilk düzeltilmiş lenslere sahip, tek atom seviyesinde görüntüleme ve analiz yapabilen yüksek çözünürlüklü elektron mikroskobu.
  • Organik ve inorganik malzemelerin üç boyutlu analizi için Elektron Tomografisi uygulamaları.
  • FIB Frezeleme kullanarak yapılandırma, TEM numune hazırlama.
  • Malzemelerde elementer / kimyasal dağılımını belirlemek için EDS spektral ve haritalama analizi.

ETKİ VE UYGULAMA ALANLARI

  • Odaklanmış elektronlar ve iyonlar vasıtasıyla mikro ve nano ölçekte yapılandırma, modifikasyon ve prototipleme.

CİHAZ LİSTESİ

  • JEOL JEM-ARM200CFEG UHR-TEM (equipped with STEM, Cs corrected STEM, EDS, Gatan Quantum GIF and Digital CCD Camera)
  • JEOL JIB-4601F MultiBeam FIB-SEM system (equipped with Oxford Omniprobe Micromanipulator and Gas Injection System (C-GIS); Oxford Xmax-N EDS System)
  • RMC Model PT-PC Cryo-Ultramicrotome System attached with CRX Universal Cryosectioning System and Diatome Model 24-CDL Dry Cryo Diamond Knife
  • Cressington 108 Metal and Carbon Sputter Coaters
Sabancı Sunum

Yenilikçi ve öncül araştırmalar ile katma değer yaratan mükemmeliyet merkezi.