AMAÇ VE YETENEKLER

En ileri teknolojiyi kullanarak atom ve moleküler seviyede görüntüleme ve inceleme.
Türkiye’deki ilk düzeltilmiş lenslere sahip, tek atom seviyesinde görüntüleme ve analiz yapabilen yüksek çözünürlüklü elektron mikroskobu.
Organik ve inorganik malzemelerin üç boyutlu analizi için Elektron Tomografisi uygulamaları.
FIB Frezeleme kullanarak yapılandırma, TEM numune hazırlama.
Malzemelerde elementer / kimyasal dağılımını belirlemek için EDS spektral ve haritalama analizi.

ETKİ VE UYGULAMA ALANLARI

Odaklanmış elektronlar ve iyonlar vasıtasıyla mikro ve nano ölçekte yapılandırma, modifikasyon ve prototipleme.

JEOL JEM-ARM200CFEG UHR-TEM (equipped with STEM, Cs corrected STEM, EDS, Gatan Quantum GIF and Digital CCD Camera)
JEOL JIB-4601F MultiBeam FIB-SEM system (equipped with Oxford Omniprobe Micromanipulator and Gas Injection System (C-GIS); Oxford Xmax-N EDS System)
RMC Model PT-PC Cryo-Ultramicrotome System attached with CRX Universal Cryosectioning System and Diatome Model 24-CDL Dry Cryo Diamond Knife
Cressington 108 Metal and Carbon Sputter Coaters

Yenilikçi ve öncül araştırmalar ile katma değer yaratan mükemmeliyet merkezi.