mySU Online Rezervasyon sunum@sabanciuniv.edu SUNUM e-Store NANOSKOP 360° SUNUM Intranet
Malzeme Karakterizasyon

Altyapı

Anasayfa > Altyapı > Laboratuvarlar > Ölçme, Karakterizasyon / Görüntüleme Laboratuvarı > Malzeme Karakterizasyon

AMAÇ VE YETENEKLER

  • Raman Spektroskopisi: Maddenin her türlü halinin titreşim, dönme ve diğer düşük frekanslı durumlarının çalışıldığı bir spektroskopik tekniktir.
  • Elipsometri: İnce metal ve dielektrikfilmlere ait kırınım sabitleri ve dielektrik fonksiyonları, optik sabitleri, ince film ve toplam film kalınlık özellikleri, yüzey pürüzlülüğü, soğurma katsayısı, optik bant aralığı, geçirgenlik ve kırınım özellikleri gibi özelliklerin ölçüldüğü sistemdir.
  • Floresans Spektroskopisi: Floresans özellik gösteren malzemelerin analizinde kullanılan elektromanyetik spektroskopidir.
  • TGA / DTA: Termogravimetrik Analiz (TGA), bir numune kütlesinin kontrollü bir atmosferde kontrollü bir sıcaklık programına tabi tutulması suretiyle, bir maddenin kütlesindeki değişimin sıcaklık veya zamanın bir fonksiyonu olarak izlendiği bir tekniktir. Diferansiyel termal analiz (DTA) ise, malzemedeki sıcaklık etkilerinin sıcaklık fonksiyonu olarak gözlendiği bir tekniktir.
  • Mikrotomografi: X ışını taraması ile mikron altı seviyeye kadar çözünürlükte örnek morfoloji hakkında bilgi verirken, iç mikro yapının üç boyutlu olarak görüntülenmesini sağlar.
  • UV-VIS Spektroskopisi: Tek bir seferde ya da istenilen bir süre zarfında analitderişimini belirlemek için kullanılan ultraviyole görünür spektral bölgedeki absorpsiyon spektroskopisini ifade eder.
  • Temas Açısı Ölçümü: Malzemelerin yüzey gerilimi, hidrofilikliği ve temas açısını belirlemek için bir sıvının katı bir alttaş üzerindeki ıslanabilirliğinin gözlemlendiği tekniktir.
  • Işık Mikroskobu: Malzemelerin görüntülerini numune hazırlama ihtiyacı olmadan büyütmek için görünür ışık ve mercek sistemi kullanır.
SUNUM Malzeme Karakterizasyon
SUNUM Malzeme Karakterizasyon

ETKİ VE UYGULAMA ALANLARI

  • Organik / inorganik maddelerdeki kimyasal bağların tayini için titreşim spektroskopisi.

CİHAZ LİSTESİ

  • Renishaw inVia Reflex Raman Microscope and Spectrometer
  • J. A. Woollam Co. M2000 and VASE Ellipsometers
  • Cary Eclipse Fluorescence Spectrophotometer
  • UV-VIS Spectrophotometer
  • TGA/DTA
  • SkyScan Micro CT
  • Theta lite Contact Angle Measurement System
  • Zeiss Axio LIMI
Sabancı Sunum

Yenilikçi ve öncül araştırmalar ile katma değer yaratan mükemmeliyet merkezi.