29 Ocak 2026 Perşembe günü SUNUM altyapısındaki Spektroskopik Elipsometre cihazları için teorik ve uygulamalı bir eğitim düzenlendi. Cihazların mevcut ve potansiyel tüm kullanıcılarının davetli olduğu eğitimi SUNUM Teknik Personeli Ali Osman Çetinkaya verdi. Katılımcılar eğitim kapsamında kendi numuneleri üzerinde deneme ölçümleri yapma imkanı buldu.
SUNUM bünyesinde, ince film karakterizasyonuna yönelik iki adet spektroskopik elipsometre sistemi bulunmaktadır:
1. J.A. Woollam M2000D
193–1000 nm dalga boyu aralığında ölçüm yapabilen bu sistem, tek katmanlı ve çok katmanlı ince filmlerin:
- Film kalınlığı
- Optik sabitleri (kırılma indisi n ve sönüm katsayısı k)
yüksek doğruluk ve hızlı spektral veri toplama avantajıyla belirlenmesini sağlar. Özellikle yarı iletken, dielektrik ve fonksiyonel kaplama çalışmalarında etkin olarak kullanılmaktadır.
2. J.A. Woollam VASE (Variable Angle Spectroscopic Ellipsometer)
193–1700 nm gibi geniş bir spektral aralıkta ölçüm kapasitesine sahip olan VASE sistemi, değişken açı özelliği sayesinde optik modellemede yüksek hassasiyet sunar. Elipsometrik ince film kalınlığı ve optik sabit (n,k) analizlerine ek olarak;
- Yansıtma (Intensity Reflectance)
- Geçirgenlik (Intensity Transmittance)
- Transmisyon elipsometrisi
ölçümleri de gerçekleştirilebilmekte olup, özellikle optik kaplamalar, şeffaf iletken filmler ve fotonik yapılar için kapsamlı karakterizasyon imkânı sağlar.
Bu iki sistem birlikte, geniş spektral kapsama alanı ve çoklu ölçüm kabiliyetleri sayesinde hem araştırma hem de endüstriyel uygulamalar için güçlü bir ince film analiz altyapısı sunmaktadır.
Fabrikasyon/Test/Analiz Hizmetleri Listemize ulaşmak için: https://sunum.sabanciuniv.edu/tr/alt-yapi/hizmet-bedeli
Ayrıntılı bilgi ve rezervasyon için: sunum-services@sabanciuniv.edu
